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Verificación fiable del funcionamiento de circuitos con multímetros con capacidad de registro de datos

Verificación fiable del funcionamiento de circuitos con multímetros con capacidad de registro de datos. 
Por Trevor Smith, director de desarrollo del mercado de osciloscopios de Tektronix.
Traducido y adaptado por Juan Ojeda de AFC Ingenieros S.A. (jojeda@afc-ingenieros.com)

En tanto que los circuitos de los sistemas embebidos se vuelven más sofisticados y las tolerancias más estrechas, surgen nuevos problemas durante la depuración y validación de los diseños. Parámetros como la estabilidad a corto plazo, la deriva y las fluctuaciones se deben medir para entender el comportamiento de un circuito en el tiempo. Los problemas escurridizos como los transitorios y los espurios pueden retrasar los proyectos días o semanas si no se encuentran rápidamente.
Para solucionar problemas de tipo esporádico y medir el comportamientos de los dispositivos de medida durante períodos de larga duración, los ingenieros deben capturar y analizar miles de datos de medida. Esto requiere el registro de grandes cantidades de datos o el seguimiento de las tendencias de la medida en el dominio del tiempo, algo que los multímetros digitales los de precisión tradicionales son incapaces de hacer.



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