Las pruebas integradas en FPGA aceleran el desarrollo | Revista Española de Electrónica
lunes , septiembre 28 2020
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Las pruebas integradas en FPGA aceleran el desarrollo

Las pruebas integradas en FPGA aceleran el desarrollo
Por Brad Frieden, Agilent Technologies

Los puertos de barrido y núcleos de medida integrados en FPGA simplifican las tareas de depuración y validación, lo que permite ahorrar tiempo en el desarrollo de proyectos.



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