Revista Española de Electrónica
Nueva opción de caracterización pulsada I/V ultrarrápida. modelo 41225 PMU, para analizador Keithley 4200.
La caracterización con excitación y medida I/V ultrarrápida una técnica cada vez más relevante en multitud de tecnologías incluyendo componentes semiconductores, dispositivos de media potencia, memorias no volátiles, MEMS, nanodispositivos, células solares y dispositivos CMOS. Permite estudiar o eliminar efectos de autocalentamiento o minimizar derivas de corriente debidas a trampas de cargas.
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