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Optimización de estrategias de prueba durante el diseño

Optimización de estrategias de prueba durante el diseño
Amit Verma. Teradyne
Los ingenieros han utilizado la experiencia del pasado o preferencias subjetivas como medio para asignar estrategias de prueba a nuevos productos, sin analizar las ventajas y debilidades de los diferentes métodos de prueba de una forma cuantitativa. Las herramientas del  programa DFT permiten realizar pruebas durante el diseño de las placas, permitiendo a los ingenieros de pruebas trabajar de manera concurrente con los diseñadores. El estudio de los resultados demuestra que la detección pronosticada por el programa DFT es real cuando se compara con la detección de fallos lograda en producción. La utilización del programa DFT durante el diseño del PCB permite modelar la detección o cobertura de fallos de las diferentes estrategias de prueba y reducir los puntos de acceso ICT (cama de pinchos), reduciendo costes y mejorando la calidad. En pruebas reales, la velocidad de captura de defectos se duplicó  cuando se utilizaron estrategias de prueba alternativas, y la velocidad de producción de la línea varió de manera significativa dependiendo de la estrategia de prueba elegida. Cuando el programa DFT permite estas decisiones en las primeras etapas del ciclo de vida del producto, los OEMs y proveedores consiguen reducciones de coste en todo el ciclo de vida del producto desde NPI hasta el proceso de fabricación y el periodo de garantía.

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