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Modelado de instrumentos para mejorar las simulaciones de integridad de señal

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Modelado de instrumentos para mejorar las simulaciones de integridad de señal
Por John Olah, Agilent EEsof EDA

Cuando las simulaciones de integridad de señal concuerdan con los resultados de las medidas, es posible realizar iteraciones de diseño por software con mayores garantías, más precisión y por menos de lo que costaría modificar varias veces las placas. Sin embargo, a la hora de realizar diseños con integridad de señal, para que los resultados de las mediciones concuerden con las simulaciones es preciso tener en cuenta consideraciones especiales. Por ejemplo, no es posible obtener una buena concordancia entre los diagramas de ojo simulados y los medidos sin contemplar en la simulación las características de los instrumentos que se utilizan para medir la estructura de prueba. Este artículo describe algunos de los principales pasos que se pueden adoptar para que las comparaciones entre medidas y simulaciones no se limiten a lo meramente cualitativo. Incluir los efectos del sistema de prueba en la simulación permite efectuar comparaciones significativas y cuantitativas. Este artículo muestra formas de incluir las medidas de la estructura de prueba y las de los instrumentos de prueba en los simuladores de circuitos para entender mejor el diseño y reducir el coste de las sucesivas modificaciones que se introducen en él.
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