Rohde & Schwarz organiza el High-Speed Digital Test Forum 2025
La omnipresencia de la digitalización se extiende a cada vez más sectores industriales, y los ingenieros de diseño necesitan ponerse al día de los últimos desafíos y conocer las soluciones más recientes para superarlos. Con el High-Speed Digital Test Forum 2025, Rohde & Schwarz presentará junto con sus aliados del sector Granite River Labs, Texas Instruments y Fixture Solution, presentará una plataforma presencial donde sus expertos pueden compartir conocimientos esenciales y familiarizarse con las mejores prácticas para los ensayos de integridad de señal y potencia.
Rohde & Schwarz organizará el High-Speed Digital Test Forum 2025 el día 8 de abril en el centro tecnológico de su sede en Múnich (Alemania). En este encuentro presencial de una jornada se analizarán las nuevas tendencias en el desarrollo y los ensayos que surgen con el avance de la digitalización en sectores industriales como la inteligencia artificial (IA), los centros de datos, la automatización industrial, las comunicaciones móviles, el sector aeroespacial y de defensa, y la conducción autónoma. Expertos de Rohde & Schwarz y especialistas de empresas aliadas del sector ofrecerán sesiones de formación en las que compartirán sus conocimientos y experiencia.
El programa incluye los siguientes puntos destacados: la ponencia inaugural, a cargo de Granite River Labs, preparará el terreno examinando la digitalización global, el big data y la IA, debatiendo los motores y tendencias principales, el impacto en los diseños de alta velocidad y las redes de distribución de energía, así como los crecientes desafíos en integridad de señal y de potencia.
La primera sesión estará a cargo de expertos de Rohde & Schwarz y Texas Instruments, y tratará sobre los desafíos del diseño de electrónica de potencia derivados de SoC (Systems on chips) y FPGA (matrices de puertas lógicas programables en campo) de alta velocidad. Se abordarán las dificultades que plantea trabajar con un gran número de líneas de alimentación y arquitecturas de suministro de energía, así como las posibilidades que ofrecen los osciloscopios para facilitar las pruebas y el análisis de estos complejos diseños de electrónica de potencia, con funciones para medir con precisión y validar el rendimiento de convertidores reductores multifásicos.
En la siguiente presentación a cargo de Rohde & Schwarz y Granite River Labs, que se centrará en los ensayos de conformidad eléctrica de USB 3.2 Gen 1 y Gen 2, los participantes obtendrán valiosa información sobre los requisitos y las configuraciones de prueba de transmisores y receptores. Los temas tratados incluirán la descripción del reloj de amplio espectro (SSC), el jitter, el análisis de diagrama de ojo y el predisparo/deénfasis.
Teniendo en cuenta que cada vez se procesan mayores cantidades de datos en los vehículos modernos, expertos de Rohde & Schwarz y Granite River Labs estudiarán en la última sesión de la mañana cómo reducir la complejidad de las redes incorporadas en los vehículos, el consumo de energía y el peso mediante el paso de una arquitectura de red orientada al dominio a una arquitectura zonal. En esta sesión se hará especial hincapié en las tecnologías 10BASE-T1S y MultiGBASE-T1 y en cómo probar estas nuevas redes de forma eficaz.
Las sesiones de la tarde comenzarán con el análisis por parte de expertos de Rohde & Schwarz de los desafíos de la integridad de señal y potencia derivados de la integración de las tecnologías de memoria RAM DDR (doble velocidad de datos) y LPDDR (doble velocidad de datos de bajo consumo). Los participantes conocerán las herramientas más eficaces para la depuración y caracterización, así como soluciones de test automáticas para verificar la conformidad. También habrá una demostración práctica sobre cómo compensar correctamente los efectos de intermediadores en pruebas de DDR, y cómo utilizar herramientas de depuración como el disparo de zona y la separación de lectura y escritura para el análisis de diagrama de ojo.
La siguiente sesión estará a cargo de Rohde & Schwarz y Granite River Labs, y analizará los desafíos del análisis de integridad de las señales y pruebas de conformidad en relación con MIPI D-PHY. Desarrollada originalmente para permitir la transmisión de datos de alta velocidad entre cámaras y pantallas en smartphones, esta especificación de la capa física se ha generalizado en aplicaciones industriales, de consumo y de automoción. Se ofrecerá una visión general de los ensayos de conformidad especificados, destacando los desafíos característicos de estas pruebas y analizando las configuraciones de medida recomendadas.
En la siguiente sesión expertos de Rohde & Schwarz analizarán en profundidad las pruebas de conformidad de la capa física DisplayPort 1.4a. Se tratará en detalle cómo depurar problemas de integridad de las señales con herramientas como el análisis del diagrama de ojo y la descomposición de jitter y ruido.
El High-Speed Digital Test Forum 2025 se clausurará con dos ponencias clave a cargo de expertos de Rohde & Schwarz y Granite River Labs sobre ensayos de tarjetas impresas e interconexiones. En una de ellas se expondrán prácticas recomendadas para el uso de analizadores de redes vectoriales (VNA) en aplicaciones digitales de alta velocidad, con el fin de caracterizar y compensar los adaptadores de prueba con la máxima precisión. La presentación final se centrará en las pruebas de diafonía entre carriles en diseños de tarjetas impresas e interconexiones de alta velocidad.
«En este mundo moderno, donde la digitalización es omnipresente, es más importante que nunca que los ingenieros conozcan las soluciones y las prácticas recomendadas más recientes para hacer frente a los desafíos actuales en las pruebas de integridad de señales y de potencia» afirma Martin Stumpf, director del segmento de pruebas digitales de alta velocidad de Rohde & Schwarz y organizador del evento. «Este foro presencial permitirá a los ingenieros acceder a los conocimientos y la experiencia de algunos de los mayores expertos mundiales en este campo, pero también les dará la oportunidad de intercambiar sus propias experiencias con otros participantes. Dada la creciente complejidad, este tipo de encuentros tiene un valor incalculable para quienes desean estar preparados para el futuro».
Para obtener más información sobre el High-Speed Digital Test Forum 2025, el programa completo, los ponentes y cómo inscribirse, visite https://www.rohde-schwarz.com/_258063.html.
