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Pickering presentará soluciones escalables de conmutación de señales para pruebas de semiconductores en Microelectronics UK

Pickering Microelectronics 2026

Visite el stand E42 de Microelectronics UK en Excel London los días 29 y 30 de septiembre de 2026

Pickering Interfaces presentará su gama de soluciones modulares de conmutación de señales basadas en estándares de la industria para pruebas y verificación de semiconductores, así como su recientemente lanzada herramienta gráfica de diseño, Test System Architect, desarrollada para simplificar el diseño de sistemas de conmutación de señales y cableado.

La compañía estará presente en el stand E42 de Microelectronics UK, que se celebrará los días 29 y 30 de septiembre en Excel London.

Microelectronics UK es uno de los principales eventos del ecosistema de microelectrónica del Reino Unido y reúne a profesionales de los ámbitos del diseño, I+D, fabricación avanzada y pruebas, abarcando sectores como los semiconductores, la fotónica y los sistemas embebidos.

“En Pickering ofrecemos soluciones de conmutación altamente especializadas, diseñadas para satisfacer las exigentes necesidades de las pruebas de semiconductores”, afirmó Steve Edwards, responsable de Gestión de Producto de Pickering. “Nuestros sistemas dan soporte a aplicaciones como las pruebas de aceptación de obleas, la validación de encapsulados con un elevado número de pines y las pruebas de fotónica, proporcionando un encaminamiento preciso de las señales, bajas corrientes de fuga y arquitecturas escalables que se integran perfectamente en entornos de prueba complejos”.

Durante la feria, Pickering destacará una selección de soluciones de conmutación para pruebas de semiconductores, entre las que se incluyen:

  • Conmutación matricial de alta densidad – Matriz modular de relés Reed LXI (65-221) para chasis LXI escalables, con una configuración dual de 128×4, desarrollada originalmente para aplicaciones de semiconductores como las pruebas paramétricas.
  • Máxima resistencia de aislamiento, de hasta 10¹² Ω – Matriz modular LXI con conmutación de guardia para chasis LXI escalables, ideal para aplicaciones que requieren mediciones precisas de bajo nivel, como las pruebas de semiconductores.
  • Máxima densidad de puntos de cruce – Matriz PXI BRIC de 12 ranuras (40-558), equipada con relés Reed de calidad para instrumentación. Forma parte de una gama de matrices PXI de gran tamaño y ultralta densidad, diseñadas para satisfacer todo tipo de necesidades de matrices de alto rendimiento.
  • Chasis modular LXI/USB de 7 ranuras (60-102) – Totalmente compatible con el estándar LXI, permite controlar de forma remota módulos PXI de conmutación y simulación de 3U mediante USB o en un entorno Ethernet LXI.
  • Software para el diseño de sistemas de prueba – Test System Architect, una herramienta gráfica online gratuita que permite a los ingenieros diseñar, configurar y visualizar rutas de señal completas antes de su implementación, reduciendo los tiempos de desarrollo y minimizando los errores.

También se presentarán soluciones de las divisiones de relés Reed y conectividad de Pickering.

Pickering Interfaces respalda sus productos fabricados con una garantía estándar de tres años y soporte de producto garantizado a largo plazo.

Los precios, la disponibilidad y la información de contacto están disponibles en su página web: www.pickeringtest.com.