Seminario Keysight. Fundamentos de Medida 2014. “Retos de Medida y Aplicaciones en los Nuevos Sistemas Digitales y RF/ Mw” | Revista Española de Electrónica
lunes , octubre 26 2020
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Seminario Keysight. Fundamentos de Medida 2014. “Retos de Medida y Aplicaciones en los Nuevos Sistemas Digitales y RF/ Mw”

Las tendencias actuales del mercado de la electrónica y las telecomunicaciones obligan a los profesionales a enfrentarse a nuevas tecnologías y situaciones cada vez más complejas, debiendo encontrar soluciones con un presupuesto cada vez más limitado. Conocer la instrumentación de propósito general y sus aplicaciones a necesidades específicas en pruebas desde el nivel de componente a sistema de comunicación, no sólo acorta el ciclo diseño/desarrollo y pruebas, sino que también resulta indispensable para la obtención de resultados precisos y exitosos. En este seminario, presentaremos la arquitectura interna de la instrumentación y los fundamentos de medida teóricos y prácticos necesarios para la caracterización de dispositivos en RF en las siguientes áreas: Osciloscopios, Analizadores de Espectro, y Analizadores de Señal; utilizando equipos de RF en las demostraciones.

Cómo inscribirse :

La inscripción a este seminario es gratuita y el número de plazas limitado. Puede inscribirse a través de la página web, llamando al 800 000 154 o si lo prefiere envíe un mensaje con sus datos de contacto a contactcenter_spain@keysight.com, especificando el día y lugar al que desea asistir.



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