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NIWeek 2013 a commencé

NIWeek 2013 a commencé où la présentation de LabVIEW 2013 et de la nouvelle plate-forme compactRIO ont été les protagonistes de la première journée.

 

Le Dr James Truchard et Erik Starkloff étaient les maîtres de cérémonie du premier Keynote. Au cours de cette présentation, les avancées et innovations de NI ont été présentées, telles que la nouvelle version de LabVIEW2013, qui fournit aux ingénieurs de nouveaux outils pour l'optimisation logicielle, la gestion de la documentation, la compatibilité avec les nouveaux systèmes NI Linux compactRIO, ainsi que des améliorations dans la publication des applications. via NI Lab, les nouveaux contrôleurs compactRIO avec leur nouvelle combinaison de processeurs doubles ARM Cortex A9 et de la matrice FPGA de la série Xilinx 7.

 

Ce nouveau contrôleur comprend également un nouveau système d'exploitation en temps réel basé sur Linux. Cet ensemble d'améliorations rend les performances de ce nouveau contrôleur jusqu'à quatre fois plus puissantes que son prédécesseur. Sous le matériel, nous pouvons trouver un développement logiciel qui rend tout code créé avec les versions précédentes de LabVIEW entièrement compatible avec la nouvelle plate-forme. Même le code développé pour le nouveau myRIO est entièrement compatible avec compactRIO. Cela nous donne matière à réflexion sur l'énorme travail effectué par les ingénieurs de NI sur les logiciels des plates-formes myRIO et compactRIO ainsi que sur le développement du nouveau LabVIEW 2013.

 

Une réunion très intéressante a été organisée par le Dr James Truchard, Erik Starkloff, Alex Davern et Ray Almgren, au cours de laquelle les nouveaux développements et l'évolution des produits National Instruments ainsi que la stratégie pour l'avenir ont été discutés. Une rencontre informelle avec tous les médias accrédités qui, en plus d'être intéressante, a été agréable.

 

Une brève promenade dans la zone de l'Expo nous montre la grande variété d'applications dérivées des produits National Instruments, de l'application dans le domaine de la vision industrielle aux dispositifs RF basés sur VST.