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Fondamentaux de la mesure 2014. "Défis et applications de la mesure dans les nouveaux systèmes numériques et RF/Mw"

Les tendances actuelles du marché de l'électronique et des télécommunications obligent les professionnels à faire face aux nouvelles technologies et à des situations de plus en plus complexes, devant trouver des solutions avec un budget de plus en plus limité. 

Connaître l'instrumentation à usage général et ses applications aux besoins de test spécifiques, du niveau des composants au système de communication, non seulement raccourcit le cycle de conception/développement et de test, mais est également essentiel pour obtenir des résultats précis et réussis. 

Dans ce séminaire, nous présenterons l'architecture interne de l'instrumentation et les fondamentaux de mesure théoriques et pratiques nécessaires à la caractérisation des dispositifs RF dans les domaines suivants : Oscilloscopes, Analyseurs de Spectre et Analyseurs de Signal ; l'utilisation d'équipements RF lors de démonstrations. 

L'ordre du jour du séminaire sera le suivant : 

9:00 Présentation et accueil
9:10 Oscilloscope - Fondamentaux et applications
10:45 Café
11:15 Analyse spectrale et aspects pratiques de la mesure
12:45 Analyse du signal - Fondamentaux et modulations numériques personnalisées
13:30 Fermeture
 
 
Comment s'inscrire :
     
L'inscription à ce séminaire est gratuite et le nombre de places est limité. Vous pouvez vous inscrire via la page web, en appelant le 800 000 154 ou si vous préférez, envoyez un message avec vos coordonnées àcontactcenter_spain@keysight.com, en précisant le jour et le lieu auxquels vous souhaitez assister.

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