Rohde & Schwarz nimmt an der XVII. Ausgabe der International Exhibition of Electrical and Electronic Material, Matelec 2014, teil, die vom 28. bis 31. Oktober auf der IFEMA (Madrid) stattfindet. In Halle 4, Stand 4E04 haben Besucher die Möglichkeit, die Produktfamilie "Value Instruments" zu sehen, die eine große Auswahl an Messgeräten für den Basisbereich umfasst, wie Spektrum- und Netzwerkanalysatoren, Signalgeneratoren, Oszilloskope, EMV-Geräte für Vor- Zertifizierungen, Netzteile usw., die sich durch Präzision, Zuverlässigkeit und Wirtschaftlichkeit auszeichnen.
Mit der Schaffung dieser neuen Familie von Value Instruments möchte Rohde & Schwarz nicht nur die Messanforderungen großer Unternehmen, sondern auch kleiner und mittlerer Unternehmen mit reduziertem Budget erfüllen. Sowohl in den Entwicklungsabteilungen großer Elektronikunternehmen als auch in kleinen Wartungslaboren werden komplexe Messaufgaben nicht immer durchgeführt und Anwender benötigen nicht immer fortschrittliche Messlösungen.
Was sie immer brauchen, sind genaue und zuverlässige Allzweckgeräte zu niedrigen Preisen. Hier kommen R&S Value Instruments ins Spiel.
Darunter sticht das neue Oszilloskop R&S RTE mit einer Bandbreite von 200 MHz bis 1 GHz hervor, mit dem R&S seine bereits bekannte Familie digitaler Oszilloskope erweitert. Mit seiner hohen Abtastrate (5 Gsamples pro Sekunde) und Datenerfassung (eine Million Wellenformen pro Sekunde) und seinem hochauflösenden 10.4-Zoll-XGA-Touchscreen bietet dieses Oszilloskop eine schnelle und zuverlässige Lösung für tägliche Test- und Messaufgaben wie Embedded-Design Entwicklung, Leistungselektronikanalyse und Debugging.
Auf dem Gebiet der EMV-Konformitätsmessungen präsentiert Rohde & Schwarz, ein anerkannter Marktführer in diesem Markt, während der Veranstaltung den schnellsten und zuverlässigsten EMI-Messempfänger der Welt, den R&S ESR, dessen Breitbandarchitektur EMI-Up-Messungen ermöglicht bis zu 6000 Mal schneller als andere Lösungen.
Seine umfassenden Diagnosetools wie Spektrogrammanzeige, Echtzeit-Spektrumanalyse und IF-Analyse helfen Entwicklern, EMIs zu erkennen und zu eliminieren. Der R&S ESR erleichtert die Durchführung von EN/CISPR/FCC-konformen Abnahmetests (leitungsgebunden oder gestrahlt) an Modulen, Montagelinien, Haushaltsgeräten, IT-Geräten, Fernsehern, Radios usw. Im Automotive-Bereich ist der R&S ESR ideal für Abnahmetests von Fahrzeugen und Zubehör nach Herstellerstandards sowie für mobile Anwendungen.
All diese Innovationen werden auf der Matelec vom 28. bis 31. Oktober in Halle 4, Stand E04 von Rohde & Schwarz präsentiert.
