Actualidad
Toshiba presenta el nuevo microcontrolador TMPM384FDFG
Toshiba Electronics Europe (TEE) ha anunciado un nuevo microcontrolador basado en ARM® CortexTM M3®, que permite controlar tanto mecanismos de accionamiento por motor como...
KEYSIGHT inicia sus operaciones
Keysight Technologies, Inc. ha anunciado que la división de medidas electrónicas de Agilent Technologies ha empezado a operar bajo el nombre Keysight. Seguirá siendo...
Colaboración entre NI en el concurso CERNs Beamline for School
NI se enorgullece en anunciar su apoyo a la competición 2016 CERNs Beamline for Schools (BL4S). BL4S está a cargo de la Fundación CERN y Sociedad,...
Novedades National Instruments Octubre 2011
-National Instruments anuncia el primer CompactRIO multinúcleo con procesador Intel® Core i7 y los dispositivos más pequeños de NI Single-Board RIO
Nuevo requisito de seguridad eléctrica en las instalaciones hospitalarias
La seguridad eléctrica y la continuidad de servicio en los quirófanos, salas de cuidados intensivos y otras instalaciones eléctricas de uso médico, son una...
Nuevo sistema envolvente compacto con conexión frontal modular
Con el nuevo sistema envolvente ME-IO, Phoenix Contact amplía su gama de producto de cajas para electrónica con tecnología de conexión frontal. Este sistema,...
Harwin patrocina al equipo Purdue Electric Racing en el campeonato Formula Student Electric Race...
Sus conectores de alta fiabilidad son ideales para el entorno de las carreras Harwin anuncia que patrocinará al equipo Purdue Electric Racing (PER) y...
Novedades Hameg Instruments. Noviembre 2009.
-Nueva familia de fuentes de alimentación HAMEG HMP.
CREE selecciona los convertidores de Mornsun para sus últimos test con Mosfet SiC
Mornsun se enorgullece en anunciar que CREE Inc, líder mundial en la fabricación de diodos Schottky y MOSFETs de silicio de carburo (SiC) ha...
Creación de un sistema de adquisición instantánea de datos más complejo
El sistema inalámbrico Fluke vendría muy bien para proyectos a gran escala, así como para el desarrollo y solución de problemas de sistemas de...