Nueva opción de caracterización pulsada  I/V   ultrarrápida. modelo 41225 PMU, para analizador Keithley 4200.
La caracterización con excitación y medida I/V ultrarrápida una técnica cada vez más  relevante en multitud de tecnologías incluyendo componentes semiconductores, dispositivos de media potencia, memorias no volátiles,  MEMS, nanodispositivos, células solares y dispositivos CMOS. Permite estudiar o eliminar efectos de autocalentamiento o minimizar derivas de corriente debidas a ”trampas” de cargas.