Verificación fiable del funcionamiento de circuitos con multímetros con capacidad de registro de datos. 
Por Trevor Smith, director de desarrollo del mercado de osciloscopios de Tektronix.
Traducido y adaptado por Juan Ojeda de AFC Ingenieros S.A. ( Esta dirección electrónica esta protegida contra spam bots. Necesita activar JavaScript para visualizarla )

En tanto que los circuitos de los sistemas embebidos se vuelven más sofisticados y las tolerancias más estrechas, surgen nuevos problemas durante la depuración y validación de los diseños. Parámetros como la estabilidad a corto plazo, la deriva y las fluctuaciones se deben medir para entender el comportamiento de un circuito en el tiempo. Los problemas escurridizos como los transitorios y los espurios pueden retrasar los proyectos días o semanas si no se encuentran rápidamente.
Para solucionar problemas de tipo esporádico y medir el comportamientos de los dispositivos de medida durante períodos de larga duración, los ingenieros deben capturar y analizar miles de datos de medida. Esto requiere el registro de grandes cantidades de datos o el seguimiento de las tendencias de la medida en el dominio del tiempo, algo que los multímetros digitales los de precisión tradicionales son incapaces de hacer.