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Un sistema completo de test de diodos láser |
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Adquisición de Datos
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Martes, 27 de Enero de 2004 00:00 |
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Un sistema completo de test de diodos láser Artículo cedido por Instrumentos de Medida
Keithley Instruments, Inc. Introduce el System 25, un sistema completo de test para caracterización Luz- Intensidad-Voltaje (LIV) para diodos láser y módulos de diodo láser ensamblados (LDMs). Keithley combina sus instrumentos de caracterización LIV con accesorios y cables para proporcionar el paquete completo, por menos de lo que supondrían sus componentes individuales y optimizando el rendimiento y velocidad en nuestro test. Con él se reduce el tiempo y el coste de integración de todos los componentes en el sistema de producción final, permitiendo precisión y velocidad de test inigualables.

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