Maximizar el ancho de banda de las sondas BGA de DDR con el fin de obtener una fidelidad superior de las señales
Artículo cedido por Agilent Technologies

A medida que el diseño de las memorias se vuelve más complejo y compacto, y la velocidad de transmisión de datos no deja de aumentar, no es de extrañar que el uso de sondas BGA para realizar mediciones de memorias DRAM tipo DDR haya cobrado popularidad e incluso se haya convertido casi en un requisito. Las velocidades de datos de DDR3 y DDR4 pasarán de 800 MT/s a posiblemente 3.200 MT/s. En estos momentos, la enorme preocupación de los diseñadores de sistemas de memoria estriba en la capacidad del diseño actual de los sistemas de sondas BGA de DDR para satisfacer los elevados requisitos de ancho de banda que permitan obtener la más alta fidelidad de las señales. La fidelidad de las señales es importante para obtener medidas de DDR precisas de cara a cumplir la especificación del JEDEC. Asimismo, los diseñadores de memorias necesitan realizar medidas de integridad de señales para probar los márgenes. El margen obtenido al eliminar el efecto de la sonda BGA de DDR podrá utilizarse para incorporar componentes menos tolerantes en el diseño. El presente artículo describe un nuevo método de corrección de sonda utilizado para ampliar el ancho de banda de la sonda BGA de DDR a fin de obtener un margen más amplio en las pruebas de integridad de señales y minimizar aquellos errores introducidos por la sonda BGA de DDR.