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NI reduce el coste de los sistemas automáticos de prueba de semiconductores con sistemas de pruebas basados en PXI

El método basado en una plataforma abierta combina la instrumentación modular y el software de diseño de sistemas en las pruebas de produc­ción de RF y señales mixtas

National Instruments ha anunciado hoy los sistemas de la serie STS (Semiconductor Test System) de NI. Estos sistemas de prueba automatizados basados en PXI reducen el coste de las pruebas de los dispositivos de RF y señales mixtas, abriendo el acceso a NI y a los módulos PXI del mercado a los entornos de prueba de producción de semiconductores. En comparación con los equipos de prueba automatizados (ATE) convencionales de semiconductores, los STS llevan a los usuarios a experimentar una reducción de los costes de producción y a un mayor rendimiento y además, ahora pueden realizar la caracterización y la producción con las mismas herramientas de hardware y software. Esto reduce el tiempo de correlación de datos y el tiempo de lanzamiento de productos al mercado. “A medida que la complejidad del circuito integrado crece exponencialmente, es cada vez más importante un ATE económico que proporcione una cobertura óptima de las pruebas de las aplicaciones que van desde la verificación del diseño a las pruebas de la línea final de producción”, dijo el Dr. Hans-Peter Kreuter, ingeniero senior de diseño y aplicaciones de componentes eléctricos y electrónicos de automóviles de Infineon Technologies. “Para la prueba de señales mixtas, los STS basados en PXI superan lo que normalmente vemos en los ATEs tradicionales con una cobertura de la prueba óptima a un coste muy bajo.”

La arquitectura abierta y modular de los STS ofrece a los ingenieros el acceso a la vanguardia de la instrumentación PXI, a diferencia de los ATEs tradicionales con su arquitectura cerrada. Esto es particularmente importante para las pruebas de RF y señales mixtas, ya que los requisitos de las últimas tecnologías de semiconductores superan a menudo la cobertura de la pruebas proporcionada por los ATEs tradicionales.

Gracias al software de gestión de pruebas TestStand y el software de diseño de sistemas LabVIEW, los STS se entregan con un completo conjunto de funciones para entornos de producción de semiconductores, incluyendo una interfaz de usuario personalizable, integración del operador/probador, programación centrada en el dispositivo con mapeado de los pines/canales, presentación de informes en el formato estándar de los datos de prueba y el soporte multi-localización integrado. Gracias a estas características, los ingenieros pueden desarrollar, depurar y desplegar rápidamente programas de prueba, acortando el tiempo total de lanzamiento al mercado. Además de incorporar el cabezal de prueba “zero-footprint” totalmente cerrado, la interfaz estándar y la mecánica de acoplamiento, los STS se entregan listos para su integración en una célula de prueba de producción de semiconductores.

La serie STS incluye tres modelos diferentes llamados T1, T2 y T4 con capacidad para uno, dos y cuatro chasis PXI, respectivamente. Estos tamaños diferentes, junto con un software, instrumentación e interconexiones mecánicas comunes a todos los modelos de STS proporcionan a los ingenieros la capacidad de optimizar una amplia gama de requisitos en cuanto a número de pines y lugares. Además, la escalabilidad de los STS hace que sea práctico realizar el despliegue desde la caracterización a la producción con la ventaja no sólo de la optimización del coste, sino de la gran simplificación de la correlación de los datos que permite acortar aún más el tiempo de lanzamiento al mercado.

Para garantizar el éxito del cliente, NI proporciona formación, productos y servicios en todo el mundo a través de profesionales de ingeniería de NI y de NI Alliance Partners.

Para obtener asistencia sobre la disponibilidad y la configuración, póngase en contacto con un ingeniero de ventas local de NI.

Para obtener más información sobre NI Semiconductor Test System, visite www.ni.com/sts.



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