Miércoles , Agosto 23 2017
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Fundamentos de Medida 2014. “Retos de Medida y Aplicaciones en los Nuevos Sistemas Digitales y RF/Mw”

Las tendencias actuales del mercado de la electrónica y las telecomunicaciones obligan a los profesionales a enfrentarse a nuevas tecnologías y situaciones cada vez más complejas, debiendo encontrar soluciones con un presupuesto cada vez más limitado. 

Conocer la instrumentación de propósito general y sus aplicaciones a necesidades específicas en pruebas desde el nivel de componente a sistema de comunicación, no sólo acorta el ciclo diseño/desarrollo y pruebas, sino que también resulta indispensable para la obtención de resultados precisos y exitosos. 

En este seminario, presentaremos la arquitectura interna de la instrumentación y los fundamentos de medida teóricos y prácticos necesarios para la caracterización de dispositivos en RF en las siguientes áreas: Osciloscopios, Analizadores de Espectro, y Analizadores de Señal; utilizando equipos de RF en las demostraciones. 

La agenda del seminario será la siguiente: 

9:00 Presentación y bienvenida
9:10 Osciloscopio – Fundamentos y Aplicaciones
10:45 Café
11:15 Análisis Espectral y Aspectos Prácticos de Medida
12:45 Análisis de Señal – Fundamentos y Modulaciones Digitales a Medida
13:30 Cierre
 
 
Cómo inscribirse :
     
La inscripción a este seminario es gratuita y el número de plazas limitado. Puede inscribirse a través de la página web, llamando al 800 000 154 o si lo prefiere envíe un mensaje con sus datos de contacto acontactcenter_spain@keysight.com, especificando el día y lugar al que desea asistir.



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